eNauka - pregled
Pregled prema Autor Golubović, Snežana
Prikaz rezultata 1 do 20 od 73
sledeće >
| Godina | Naslov | Autor(i) | Tip rezultata | Mp-kat. |
|---|---|---|---|---|
| 1993 | A comparison between thermal annealing and UV‐radiation annealing of γ‐irradiated NMOS transistors | Pejović, Momčilo  ; Ristić, Goran  ; Golubović, Snežana | Article | 23M23 |
| 2018 | A review of pulsed NBTI in P-channel power VDMOSFETs | Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Prijić, Aneta ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Zoran ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana ; Paskaleva, A.; Spassov, D.; Stojadinović, Ninoslav | Article | 22M22 |
| 2021 | A Review of the Electric Circuits for NBTI Modeling in p-Channel Power VDMOSFETs | Danković, Danijel ; Mitrović, Nikola ; Veljkovic, Sandra ; Davidović, Vojkan ; Đorić-Veljković, Snežana ; Prijić, Zoran ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dentcho; Golubović, Snežana | Conference Paper | Mp. category will be shown later |
| 1995 | Analiza formiranja i odžarivanja radijacionih defekata kod MOS tranzistora | Golubović, Snežana | Doctoral theses | 70M70 |
| 2015 | Analysis of recoverable and permanent components of threshold voltage shift in NBT stressed p-channel power VDMOSFET | Danković, Danijel ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Aneta ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana | Article | 22M22 |
| 2015 | Annealing influence on recovery of electrically stressed power vertical double-diffused metal oxide semiconductor transistors | Đorić-Veljković, Snežana ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Article | 22M22 |
| 1994 | Annealing of gamma-irradiated Al-gate NMOS transistors | Pejović, Momčilo ; Golubović, Snežana ; Ristić, Goran ; Odalović, Milan | Article | 21M21 |
| 2011 | Annealing of radiation-induced defects in burn-in stressed power VDMOSFETs | Đorić-Veljković, Snežana ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Article | 22M22 |
| 2007 | Библиографија радова проф. др Нинослава Стојадиновића | Голубовић, Снежана | Other | Mp. category will be shown later |
| 2022 | Characterization of irradiated and NBT stressed p-channel power VDMOSFETs | Mitrović, Nikola ; Veljković, Sandra ; Davidović, Vojkan ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Živanović, Emilija ; Prijić, Zoran ; Danković, Danijel | Conference Paper | Mp. category will be shown later |
| 2010 | Degradation of p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stress | Đorić-Veljković, Snežana ; Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav | Conference Paper | Mp. category will be shown later |
| 2006 | Efekti naprezanja oksida gejta VDMOS tranzistora snage | Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana ; Manić, Ivica ; Давидовић, Војкан | Monografija | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2021 | Efekti zračenja i odžarivanja kod naponsko temperaturno naprezanih p-kanalnih VDMOS tranzistora snage | Veljković, Sandra ; Mitrović, Nikola ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Danković, Danijel | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 1995 | Effect of radiation-induced oxide-trapped charge on mobility in p-channel MOSFETs | Stojadinović, Ninoslav ; Pejović, Momčilo ; Golubović, Snežana ; Ristić, Goran ; Davidović, Vojkan ; Dimitrijev, Sima | Naučni članak | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2021 | Effects of Bias Temperature Stress and Irradiation in Commercial p-Channel Power VDMOS Transistors | Veljković, Sandra ; Mitrović, Nikola ; Đorić-Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Manić, Ivica ; Golubović, Snežana ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dentcho; Prijić, Zoran ; Prijić, Aneta ;
Stanković, S.
; Danković, Danijel ; | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2018 | Effects of consecutive irradiation and bias temperature stress in p-channel power vertical double-diffused metal oxide semiconductor transistors | Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Ilić, Aleksandar; Manić, Ivica ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana ; Prijić, Zoran ; Prijić, Aneta ; Stojadinović, Ninoslav | Article | 22M22 |
| 2003 | Effects of electrical stressing in power VDMOSFETs | Stojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, Sima | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2005 | Effects of electrical stressing in power VDMOSFETS | Stojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, Sima | Article | 22M22 |
| 2009 | Effects of low gate bias annealing in NBT stressed p-channel power VDMOSFETs | Manić, Ivica ; Danković, Danijel ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Article | 22M22 |
| 2016 | Effects of pulsed negative bias temperature stressing in p-channel power VDMOSFETs | Manić, Ivica ; Danković, Danijel ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Aneta ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav | Article | 24M24 |