еНаука - преглед

Преглед према Аутор Davidović, Vojkan

Приказ резултата 1 до 20 од 108  следеће >
ГодинаНасловАутор(и)Тип резултатаМп-кат.
2018A review of pulsed NBTI in P-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Aneta  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Zoran  ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Paskaleva, A.; Spassov, D.; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2021A Review of the Electric Circuits for NBTI Modeling in p-Channel Power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Mitrović, Nikola  ; Veljkovic, Sandra  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Prijić, Zoran  ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dentcho; Golubović, Snežana Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2009Analiza tehnika za razdvajanje efekata naelektrisanja u oksidu gejta i površinskih stanja kod VDMOS tranzistora snageDavidović, Vojkan  Докторска дисертација
70M70 - Одбрањена докторска дисертација
2015Analysis of recoverable and permanent components of threshold voltage shift in NBT stressed p-channel power VDMOSFETDanković, Danijel  ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Aneta  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2001Analytical modelling of electrical characteristics in gamma-irradiated power VDMOS transistorsManić, Ivica  ; Pavlović, Zoran; Prijić, Zoran  ; Davidović, Vojkan  ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2015Annealing influence on recovery of electrically stressed power vertical double-diffused metal oxide semiconductor transistorsĐorić-Veljković, Snežana  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2011Annealing of radiation-induced defects in burn-in stressed power VDMOSFETsĐorić-Veljković, Snežana  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2024Assessment of NBT Stressing Impact on the Continuous Operation of Power VDMOS TransistorVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Živanović, Emilija  ; Marjanović, Miloš  ; Davidović, Vojkan  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2004Burn-in stressing effects on post-irradiation annealing response of power VDMOSFETsDjoric-Veljkovic, Snezana M; Manic, Ivica Dj; Davidovic, Vojkan S  ; Golubovic, Snezana M; Stojadinovic, Ninoslav DКонференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2022Characterization of irradiated and NBT stressed p-channel power VDMOSFETsMitrović, Nikola  ; Veljković, Sandra  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Živanović, Emilija  ; Prijić, Zoran  ; Danković, Danijel  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2023Characterization of the Electric Breakdowns in Metal-Insulator-Silicon Capacitor Structures with HfO2/Al2O3 Layers for Non-Volatile Memory ApplicationsSpassov, Dentcho; Paskaleva, Albena; Guziewicz, Elzbieta; Ivanov, Tz.; Stanchev, T.; Davidović, Vojkan  ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Danković, Danijel  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2019Comparison of Radiation Characteristics of HfO2 and SiO2 Incorporated in MOS Capacitor in Field of Gamma and X RadiationStanković, Srboljub J.  ; Nikolić, Dragana  ; Kržanović, Nikola  ; Nađđerđ, Laslo  ; Davidović, Vojkan S.  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2010Degradation of p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stressĐorić-Veljković, Snežana  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2018Dekapsulacija i analiza EPAD-aAleksandar Jevtić; Stefan Ilić  ; Davidović, Vojkan S.  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2021Efekti zračenja i odžarivanja kod naponsko temperaturno naprezanih p-kanalnih VDMOS tranzistora snageVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Danković, Danijel  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
1995Effect of radiation-induced oxide-trapped charge on mobility in p-channel MOSFETsStojadinović, Ninoslav ; Pejović, Momčilo ; Golubović, Snežana ; Ristić, Goran  ; Davidović, Vojkan  ; Dimitrijev, SimaНаучни чланак
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2023Effects in Commercial p-Channel Power VDMOS Transistors Initiated by Negative Bias Temperature Stress and IrradiationVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Manić, Ivica  ; Živanović, Emilija  ; Stanković, Srboljub  ; Anđelković, Marko ; Ristić, Goran  ; Paskleva, Albena;
Spassov, Dentcho; Danković, Danijel  ;
Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2021Effects of Bias Temperature Stress and Irradiation in Commercial p-Channel Power VDMOS TransistorsVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Manić, Ivica  ; Golubović, Snežana ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dentcho; Prijić, Zoran  ; Prijić, Aneta  ;
Stanković, S.  ; Danković, Danijel  ;
Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2002Effects of burn-in stressing on radiation response of power VDMOSFETsStojadinovic, Ninoslav D; Đoric-Veljkovic, Snezana M  ; Manic, Ivica Dj; Davidovic, Vojkan S  ; Golubovic, Snezana MНаучни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2018Effects of consecutive irradiation and bias temperature stress in p-channel power vertical double-diffused metal oxide semiconductor transistorsDavidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Ilić, Aleksandar; Manić, Ivica  ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Prijić, Zoran  ; Prijić, Aneta  ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22