еНаука - преглед
Преглед према Аутор Davidović, Vojkan
Приказ резултата 1 до 20 од 108
следеће >
| Година | Наслов | Аутор(и) | Тип резултата | Мп-кат. |
|---|---|---|---|---|
| 2018 | A review of pulsed NBTI in P-channel power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2021 | A Review of the Electric Circuits for NBTI Modeling in p-Channel Power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2009 | Analiza tehnika za razdvajanje efekata naelektrisanja u oksidu gejta i površinskih stanja kod VDMOS tranzistora snage | Davidović, Vojkan | Докторска дисертација | 70M70 - Одбрањена докторска дисертација |
| 2015 | Analysis of recoverable and permanent components of threshold voltage shift in NBT stressed p-channel power VDMOSFET![]() | Danković, Danijel | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2001 | Analytical modelling of electrical characteristics in gamma-irradiated power VDMOS transistors![]() | Manić, Ivica | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2015 | Annealing influence on recovery of electrically stressed power vertical double-diffused metal oxide semiconductor transistors![]() | Đorić-Veljković, Snežana | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2011 | Annealing of radiation-induced defects in burn-in stressed power VDMOSFETs![]() | Đorić-Veljković, Snežana | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2024 | Assessment of NBT Stressing Impact on the Continuous Operation of Power VDMOS Transistor![]() | Veljković, Sandra | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2004 | Burn-in stressing effects on post-irradiation annealing response of power VDMOSFETs | Djoric-Veljkovic, Snezana M; Manic, Ivica Dj; Davidovic, Vojkan S | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2022 | Characterization of irradiated and NBT stressed p-channel power VDMOSFETs![]() | Mitrović, Nikola | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2023 | Characterization of the Electric Breakdowns in Metal-Insulator-Silicon Capacitor Structures with HfO2/Al2O3 Layers for Non-Volatile Memory Applications![]() | Spassov, Dentcho; Paskaleva, Albena; Guziewicz, Elzbieta; Ivanov, Tz.; Stanchev, T.; Davidović, Vojkan | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2019 | Comparison of Radiation Characteristics of HfO2 and SiO2 Incorporated in MOS Capacitor in Field of Gamma and X Radiation![]() | Stanković, Srboljub J. | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2010 | Degradation of p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stress![]() | Đorić-Veljković, Snežana | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2018 | Dekapsulacija i analiza EPAD-a![]() | Aleksandar Jevtić; Stefan Ilić | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2021 | Efekti zračenja i odžarivanja kod naponsko temperaturno naprezanih p-kanalnih VDMOS tranzistora snage![]() | Veljković, Sandra | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 1995 | Effect of radiation-induced oxide-trapped charge on mobility in p-channel MOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2023 | Effects in Commercial p-Channel Power VDMOS Transistors Initiated by Negative Bias Temperature Stress and Irradiation![]() | Veljković, Sandra | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2021 | Effects of Bias Temperature Stress and Irradiation in Commercial p-Channel Power VDMOS Transistors![]() | Veljković, Sandra | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2002 | Effects of burn-in stressing on radiation response of power VDMOSFETs![]() | Stojadinovic, Ninoslav D; Đoric-Veljkovic, Snezana M | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2018 | Effects of consecutive irradiation and bias temperature stress in p-channel power vertical double-diffused metal oxide semiconductor transistors![]() | Davidović, Vojkan | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
