Browsing eNauka
Browsing by Author Manić, Ivica
Showing results 1 to 20 of 69
next >
| Issue Date | Title | Author(s) | Type | Мp-cat. |
|---|---|---|---|---|
| 2014 | A Method for Measuring NBTI Degradation in p-channel Power VDMOSFETs | Prijić, Zoran   ; Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Manić, Ivica ; Stojadinović, Ninoslav | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2012 | A method for negative bias temperature instability (NBTI) measurements on power VDMOS transistors | Prijić, Aneta ; Danković, Danijel ; Vračar, Ljubomir ; Manić, Ivica ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 2018 | A review of pulsed NBTI in P-channel power VDMOSFETs | Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Prijić, Aneta ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Zoran ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana ; Paskaleva, A.; Spassov, D.; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2004 | An improved analytical model of IGBT in forward conduction mode | Pavlovic, Zoran; Manic, Ivica Dj ; Stojadinovic, Ninoslav D | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2015 | Analysis of recoverable and permanent components of threshold voltage shift in NBT stressed p-channel power VDMOSFET | Danković, Danijel ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Aneta ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2001 | Analytical modelling of electrical characteristics in gamma-irradiated power VDMOS transistors | Manić, Ivica ; Pavlović, Zoran; Prijić, Zoran ; Davidović, Vojkan ; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2015 | Annealing influence on recovery of electrically stressed power vertical double-diffused metal oxide semiconductor transistors | Đorić-Veljković, Snežana ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2011 | Annealing of radiation-induced defects in burn-in stressed power VDMOSFETs | Đorić-Veljković, Snežana ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2010 | Constant Voltage Stressing of Hf-Doped Ta2O5 Stacks | Manić, Ivica ; Stojadinović, Ninoslav ; Elena Atanassova; Dencho Spassov | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2010 | Degradation of p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stress | Đorić-Veljković, Snežana ; Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2006 | Efekti naprezanja oksida gejta VDMOS tranzistora snage | Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana ; Manić, Ivica ; Давидовић, Војкан | Monografija | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2023 | Effects in Commercial p-Channel Power VDMOS Transistors Initiated by Negative Bias Temperature Stress and Irradiation | Veljković, Sandra ; Mitrović, Nikola ; Đorić-Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Manić, Ivica ; Živanović, Emilija ; Stanković, Srboljub ; Anđelković, Marko ; Ristić, Goran ; Paskleva, Albena;
Spassov, Dentcho; Danković, Danijel
; | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2002 | Effects of ?-Irradiation on Electrical Characteristics of Power Vdmos Transistors | Pavlović, Z.; Manić, Ivica ; Golubović, Snežana | Naučni članak | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2021 | Effects of Bias Temperature Stress and Irradiation in Commercial p-Channel Power VDMOS Transistors | Veljković, Sandra ; Mitrović, Nikola ; Đorić-Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Manić, Ivica ; Golubović, Snežana ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dentcho; Prijić, Zoran ; Prijić, Aneta ;
Stanković, S.
; Danković, Danijel ; | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2018 | Effects of consecutive irradiation and bias temperature stress in p-channel power vertical double-diffused metal oxide semiconductor transistors | Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Ilić, Aleksandar; Manić, Ivica ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana ; Prijić, Zoran ; Prijić, Aneta ; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2010 | Effects of Constant Voltage Stress in Hf-doped Ta2O5 Stacks | Manić, Ivica ; Elena Atanassova; Stojadinović, Ninoslav ; Dencho Spassov | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2003 | Effects of electrical stressing in power VDMOSFETs | Stojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, Sima | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2005 | Effects of electrical stressing in power VDMOSFETS | Stojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, Sima | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2009 | Effects of low gate bias annealing in NBT stressed p-channel power VDMOSFETs | Manić, Ivica ; Danković, Danijel ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2016 | Effects of pulsed negative bias temperature stressing in p-channel power VDMOSFETs | Manić, Ivica ; Danković, Danijel ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Aneta ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 24M24 - Vodeći nacionalni časopis kategorije M24 |