еНаука - преглед

Преглед према Аутор Stojadinovic, Ninoslav D

Приказ резултата 1 до 17 од 17
ГодинаНасловАутор(и)Тип резултатаМп-кат.
2004An improved analytical model of IGBT in forward conduction modePavlovic, Zoran; Manic, Ivica Dj; Stojadinovic, Ninoslav DКонференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2004Burn-in stressing effects on post-irradiation annealing response of power VDMOSFETsDjoric-Veljkovic, Snezana M; Manic, Ivica Dj; Davidovic, Vojkan S; Golubovic, Snezana M; Stojadinovic, Ninoslav DКонференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2008Degradation behavior of Ta2O5 stacks and its dependence on the gate electrodeAtanassova, E; Stojadinovic, Ninoslav D; Paskaleva, AКонференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2003Effects of burn-in stressing on post-irradiation annealing response of power VDMOSFETs (✓)Đoric-Veljkovic, Snezana M  ; Đoric-Veljkovic, Snezana M; Davidovic, Vojkan S; Golubovic, Snezana M; Stojadinovic, Ninoslav DНаучни чланак
22M22 - Рад у истакнутом међ. часопису
2002Effects of burn-in stressing on radiation response of power VDMOSFETs (✓)Stojadinovic, Ninoslav D; Đoric-Veljkovic, Snezana M  ; Manic, Ivica Dj; Davidovic, Vojkan S; Golubovic, Snezana MНаучни чланак
22M22 - Рад у истакнутом међ. часопису
2001Effects of elevated-temperature bias stressing on radiation response in power VDMOSFETsStojadinovic, Ninoslav D; Djoric-Veljkovic, Snezana M; Manic, Ivica Dj; Davidovic, Vojkan S; Golubovic, Snezana MКонференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2002Effects of high electric field and elevated-temperature bias stressing on radiation response in power VDMOSFETs (✓)Stojadinovic, Ninoslav D; Manic, Ivica Dj; Đoric-Veljkovic, Snezana M  ; Davidović, Vojkan; Golubovic, Snezana M; Dimitrijev, SimaНаучни чланак
22M22 - Рад у истакнутом међ. часопису
2004Effects of hot carrier and irradiation stresses on advanced excimer laser annealed polycrystalline silicon thin film transistorsKouvatsos, DN; Davidovic, Vojkan S; Papaioannou, GJ; Stojadinovic, Ninoslav D; Michalas, L; Exarchos, M; Voutsas, AT; Goustouridis, DНаучни чланак
22M22 - Рад у истакнутом међ. часопису
2002Effects of positive gate bias stress on radiation response in power VDMOSFETsStojadinovic, Ninoslav D; Djoric-Veljkovic, Snezana M; Manic, Ivica Dj; Davidovic, Vojkan S; Golubovic, Snezana MКонференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2001Gamma-irradiation effects in power MOSFETs for application in communication satellitesStojadinovic, Ninoslav D; Djoric-Veljkovic, Snezana M; Davidovic, Vojkan S; Manic, Ivica Dj; Golubovic, Snezana MКонференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2007Influence of polysilicon film thickness on radiation response of advanced excimer laser annealed polycrystalline silicon thin film transistorsDavidovic, Vojkan S; Kouvatsos, DN; Stojadinovic, Ninoslav D; Voutsas, ATНаучни чланак
22M22 - Рад у истакнутом међ. часопису
2001Mechanisms of positive gate bias stress induced instabilities in power VDMOSFETs (✓)Stojadinovic, Ninoslav D; Manic, Ivica Dj  ; Đoric-Veljkovic, Snezana M  ; Davidovic, Vojkan S  ; Golubovic, Snezana M; Dimitrijev, SimaНаучни чланак
22M22 - Рад у истакнутом међ. часопису
2001Modeling of gamma-irradiation and lowered temperature effects in power vertical double-diffused metal-oxide-semiconductor transistors (Erratum - errors in Authors - vol 38, pg 4699, 1999)</strong></font>Stojadinovic, Ninoslav D; Golubovic, Snezana M; Djoric-Veljkovic, Snezana M; Davidovic, Vojkan SОстало
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2000Papers presented at the 22nd International Conference on Microelectronics (MIEL) 14-17 May 2000, Nis, YugoslaviaStojadinovic, Ninoslav DНаучни чланак
22M22 - Рад у истакнутом међ. часопису
2001Progress in power semiconductorsCharitat, G; Benda, V; Stojadinovic, Ninoslav DНаучни чланак
22M22 - Рад у истакнутом међ. часопису
2000Radiation effects in low-temperature stressed power VDMOS transistorsDjoric-Veljkovic, Snezana M; Davidovic, Vojkan S; Golubovic, Snezana M; Stojadinovic, Ninoslav DКонференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2002Radiation hardening of power MOSFETs using electrical stress (✓)Stojadinovic, Ninoslav D; Đoric-Veljkovic, Snezana M  ; Manic, Ivica Dj; Davidovic, Vojkan S; Golubovic, Snezana MНаучни чланак
21M21 - Рад у врхунском међ. часопису