Istraživači
Davidović, Vojkan
Godina
- 38 2020 - 2027
- 39 2010 - 2019
- 30 2000 - 2009
- 1 1990 - 1999
Mp-kat.
- 54 M30/M60
- 30 M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
- 7 M20/M50
- 6 M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21
- 3 M24 - Vodeći nacionalni časopis kategorije M24
- 2 M23 - Međunarodni časopis kategorije M23
- 1 M10/M40
- 1 M21a - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21a
- 1 M51 - Vodeći nacionalni časopis kategorije M51
- 1 M53 - Nacionalni časopis kategorije M53
- sledeći >
Godina - raspon
Rezultati 81-100 od 108
| Godina | Naslov | Autor(i) | Tip rezultata | Mp-kat. |
|---|---|---|---|---|
| 2008 | Negative bias temperature instability in n-channel power VDMOSFETs | Danković, Danijel   ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2008 | New approach in estimating the lifetime in NBT stressed p-channel power VDMOSFETs | Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2008 | Mechanisms of spontaneous recovery in DC gate bias stressed power VDMOSFETs | Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2007 | Influence of polysilicon film thickness on radiation response of advanced excimer laser annealed polycrystalline silicon thin film transistors | Davidovic, Vojkan S ; Kouvatsos, DN; Stojadinovic, Ninoslav D; Voutsas, AT | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2007 | Impact of negative bias temperature instabilities on lifetime in p-channel power VDMOSFETs | Stojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2007 | Negative bias temperature instabilities in sequentially stressed and annealed p-channel power VDMOSFETs | Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2006 | NBT stress-induced degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETs | Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2006 | Spontaneous recovery in DC gate bias stressed power VDMOSFETs | Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2006 | Electrical stressing effects in commercial power VDMOSFETs | Stojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, Sima | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2006 | Lifetime estimation in NBT stressed P-channel power VDMOSFETs | Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2005 | Effects of electrical stressing in power VDMOSFETS | Stojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, Sima | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2005 | Negative bias temperature instability mechanisms in p-channel power VDMOSFETs | Stojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Manić, Ivica ; Golubović, Snežana | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2004 | Burn-in stressing effects on post-irradiation annealing response of power VDMOSFETs | Djoric-Veljkovic, Snezana M; Manic, Ivica Dj; Davidovic, Vojkan S ; Golubovic, Snezana M; Stojadinovic, Ninoslav D | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2004 | Effects of hot carrier and irradiation stresses on advanced excimer laser annealed polycrystalline silicon thin film transistors | Kouvatsos, DN; Davidovic, Vojkan S ; Papaioannou, GJ; Stojadinovic, Ninoslav D; Michalas, L; Exarchos, M; Voutsas, AT; Goustouridis, D | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2003 | Effects of electrical stressing in power VDMOSFETs | Stojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, Sima | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2002 | Effects of high electric field and elevated-temperature bias stressing on radiation response in power VDMOSFETs | Stojadinovic, Ninoslav D; Manic, Ivica Dj; Đoric-Veljkovic, Snezana M ; Davidović, Vojkan ; Golubovic, Snezana M; Dimitrijev, Sima | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2002 | Spontaneous recovery of positive gate bias stressed power VDMOSFETs | Stojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, Sima | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2002 | Effects of burn-in stressing on radiation response of power VDMOSFETs | Stojadinovic, Ninoslav D; Đoric-Veljkovic, Snezana M ; Manic, Ivica Dj; Davidovic, Vojkan S ; Golubovic, Snezana M | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2002 | Radiation hardening of power MOSFETs using electrical stress | Stojadinovic, Ninoslav D; Đoric-Veljkovic, Snezana M ; Manic, Ivica Dj; Davidovic, Vojkan S ; Golubovic, Snezana M | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 2002 | Effects of positive gate bias stress on radiation response in power VDMOSFETs | Stojadinovic, Ninoslav D; Djoric-Veljkovic, Snezana M; Manic, Ivica Dj; Davidovic, Vojkan S ; Golubovic, Snezana M | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |