Davidović, Vojkan

Тип

Година

Мп-кат.

Година - распон

Година од:

Година до:

Резултати 81-100 од 107 Резултати/страница

Godina	Naslov	Autor(i)	Tip rezultata	Mp-kat.
2008	Negative bias temperature instability in n-channel power VDMOSFETs	Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav	Научни чланак	22M22 - Међународни часопис категорије M22
2008	New approach in estimating the lifetime in NBT stressed p-channel power VDMOSFETs	Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav	Конференцијски рад	Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2007	Impact of negative bias temperature instabilities on lifetime in p-channel power VDMOSFETs	Stojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana	Конференцијски рад	Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2007	Influence of polysilicon film thickness on radiation response of advanced excimer laser annealed polycrystalline silicon thin film transistors	Davidovic, Vojkan S ; Kouvatsos, DN; Stojadinovic, Ninoslav D; Voutsas, AT	Научни чланак	22M22 - Међународни часопис категорије M22
2007	Negative bias temperature instabilities in sequentially stressed and annealed p-channel power VDMOSFETs	Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav	Научни чланак	22M22 - Међународни часопис категорије M22
2006	Spontaneous recovery in DC gate bias stressed power VDMOSFETs	Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav	Конференцијски рад	Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2006	Electrical stressing effects in commercial power VDMOSFETs	Stojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, Sima	Научни чланак	22M22 - Међународни часопис категорије M22
2006	Lifetime estimation in NBT stressed P-channel power VDMOSFETs	Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav	Конференцијски рад	Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2006	NBT stress-induced degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETs	Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav	Научни чланак	22M22 - Међународни часопис категорије M22
2005	Effects of electrical stressing in power VDMOSFETS	Stojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, Sima	Научни чланак	22M22 - Међународни часопис категорије M22
2005	Negative bias temperature instability mechanisms in p-channel power VDMOSFETs	Stojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Manić, Ivica ; Golubović, Snežana	Научни чланак	22M22 - Међународни часопис категорије M22
2004	Burn-in stressing effects on post-irradiation annealing response of power VDMOSFETs	Djoric-Veljkovic, Snezana M; Manic, Ivica Dj; Davidovic, Vojkan S ; Golubovic, Snezana M; Stojadinovic, Ninoslav D	Конференцијски рад	Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2004	Effects of hot carrier and irradiation stresses on advanced excimer laser annealed polycrystalline silicon thin film transistors	Kouvatsos, DN; Davidovic, Vojkan S ; Papaioannou, GJ; Stojadinovic, Ninoslav D; Michalas, L; Exarchos, M; Voutsas, AT; Goustouridis, D	Научни чланак	22M22 - Међународни часопис категорије M22
2003	Effects of electrical stressing in power VDMOSFETs	Stojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, Sima	Конференцијски рад	Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2002	Spontaneous recovery of positive gate bias stressed power VDMOSFETs	Stojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, Sima	Конференцијски рад	Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2002	Effects of burn-in stressing on radiation response of power VDMOSFETs	Stojadinovic, Ninoslav D; Đoric-Veljkovic, Snezana M ; Manic, Ivica Dj; Davidovic, Vojkan S ; Golubovic, Snezana M	Научни чланак	22M22 - Међународни часопис категорије M22
2002	Radiation hardening of power MOSFETs using electrical stress	Stojadinovic, Ninoslav D; Đoric-Veljkovic, Snezana M ; Manic, Ivica Dj; Davidovic, Vojkan S ; Golubovic, Snezana M	Научни чланак	21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
2002	Effects of high electric field and elevated-temperature bias stressing on radiation response in power VDMOSFETs	Stojadinovic, Ninoslav D; Manic, Ivica Dj; Đoric-Veljkovic, Snezana M ; Davidović, Vojkan ; Golubovic, Snezana M; Dimitrijev, Sima	Научни чланак	22M22 - Међународни часопис категорије M22
2002	Mechanisms of spontaneous recovery in positive gate bias stressed power VDMOSFETs	Stojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, Sima	Научни чланак	22M22 - Међународни часопис категорије M22
2002	Effects of positive gate bias stress on radiation response in power VDMOSFETs	Stojadinovic, Ninoslav D; Djoric-Veljkovic, Snezana M; Manic, Ivica Dj; Davidovic, Vojkan S ; Golubovic, Snezana M	Конференцијски рад	Мп категорија ће бити приказана накнадно.